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制备工艺条件对薄膜微结构的影响

文献类型:期刊论文

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作者田光磊 ; 申雁鸣 ; 沈健 ; 邵建达 ; 范正修
刊名中国激光
出版日期2006
卷号33期号:5页码:673
关键词薄膜 X射线衍射 晶相结构 迁移率 扩散激活能
ISSN号0258-7025
其他题名Influence of technological conditions of deposition process on microstructure of thin films
中文摘要用不同的方法在石英玻璃,YAG晶体,K9玻璃和LiNbO3晶体等几种衬底上制备了ZrO2,HfO2和TiO2薄膜。HfO2薄膜利用电子束蒸发(EB)、离子束辅助(IAD)和双束离子束溅射(DIBS)三种方法沉积。对其中的一些样品进行了不同温度下的退火处理,对所有的样品进行X射线衍射(XRD)测试,以获得不同条件下得到的薄膜的晶相及晶粒尺寸等的微结构参数。实验结果表明,薄膜的晶相结构以及晶粒尺寸强烈地依赖于沉积过程的各种技术参数,如衬底的种类、沉积温度、沉积方法和退火温度。利用薄膜表面扩散以及薄膜成核长大热
学科主题光学薄膜
分类号O484.4
收录类别ei
语种中文
公开日期2009-09-22
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/4338]  
专题上海光学精密机械研究所_光学薄膜技术研究与发展中心
推荐引用方式
GB/T 7714
田光磊,申雁鸣,沈健,等. 制备工艺条件对薄膜微结构的影响, Influence of technological conditions of deposition process on microstructure of thin films[J]. 中国激光,2006,33(5):673, 678.
APA 田光磊,申雁鸣,沈健,邵建达,&范正修.(2006).制备工艺条件对薄膜微结构的影响.中国激光,33(5),673.
MLA 田光磊,et al."制备工艺条件对薄膜微结构的影响".中国激光 33.5(2006):673.

入库方式: OAI收割

来源:上海光学精密机械研究所

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