1064nm和532nm共同辐照薄膜的损伤
文献类型：期刊论文
| 作者 | 周明 ; 赵元安 ; 李大伟 ; 邵建达 ; 范正修 |
| 刊名 | 中国激光
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| 出版日期 | 2009-11-15 |
| 期号 | 36页码:3050 |
| 关键词 | 薄膜 激光损伤 缺陷 不同波长 |
| 合作状况 | 其它 |
| 学科主题 | 激光技术 ; 光学材料 |
| 收录类别 | 其他 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-04-27 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/6633]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_光学薄膜技术研究与发展中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周明,赵元安,李大伟,等. 1064nm和532nm共同辐照薄膜的损伤[J]. 中国激光,2009(36):3050. |
| APA | 周明,赵元安,李大伟,邵建达,&范正修.(2009).1064nm和532nm共同辐照薄膜的损伤.中国激光(36),3050. |
| MLA | 周明,et al."1064nm和532nm共同辐照薄膜的损伤".中国激光 .36(2009):3050. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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