中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
Effect of defects on the reflectivity of Cr/C multilayer soft X-ray mirror at 4.48 nm

文献类型:期刊论文

作者Songwen Deng ; Hongji Qi ; Kui Yi ; Zhengxiu Fan ; Jianda Shao
刊名applied surface science
出版日期2009-05-16
期号255页码:7434-7438
合作状况国际
学科主题其他
收录类别SCI
语种英语
WOS记录号WOS:000266097500054
公开日期2010-04-28
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/6654]  
专题上海光学精密机械研究所_光学薄膜技术研究与发展中心
推荐引用方式
GB/T 7714
Songwen Deng,Hongji Qi,Kui Yi,et al. Effect of defects on the reflectivity of Cr/C multilayer soft X-ray mirror at 4.48 nm[J]. applied surface science,2009(255):7434-7438.
APA Songwen Deng,Hongji Qi,Kui Yi,Zhengxiu Fan,&Jianda Shao.(2009).Effect of defects on the reflectivity of Cr/C multilayer soft X-ray mirror at 4.48 nm.applied surface science(255),7434-7438.
MLA Songwen Deng,et al."Effect of defects on the reflectivity of Cr/C multilayer soft X-ray mirror at 4.48 nm".applied surface science .255(2009):7434-7438.

入库方式: OAI收割

来源:上海光学精密机械研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。