Laser crystallization of amorphous silicon films investigated by Raman spectroscopy and atomic force microscopy
文献类型：期刊论文
| 作者 | Jin Jing ; Yuan Zhijun ; Huang Lu ; Chen Sheng ; Shi Weimin ; Cao Zechun ; Lou Qihong |
| 刊名 | applied surface science
 |
| 出版日期 | 2011 |
| 卷号 | 256期号:11页码:3453 |
| 关键词 | 3458 |
| 合作状况 | 其它 |
| 学科主题 | 光学材料 |
| 收录类别 | 其他 |
| 语种 | 中文 |
| WOS记录号 | WOS:000275515100019 |
| 公开日期 | 2011-04-22 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/7252]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_空间激光信息技术研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Jin Jing,Yuan Zhijun,Huang Lu,et al. Laser crystallization of amorphous silicon films investigated by Raman spectroscopy and atomic force microscopy[J]. applied surface science,2011,256(11):3453. |
| APA | Jin Jing.,Yuan Zhijun.,Huang Lu.,Chen Sheng.,Shi Weimin.,...&Lou Qihong.(2011).Laser crystallization of amorphous silicon films investigated by Raman spectroscopy and atomic force microscopy.applied surface science,256(11),3453. |
| MLA | Jin Jing,et al."Laser crystallization of amorphous silicon films investigated by Raman spectroscopy and atomic force microscopy".applied surface science 256.11(2011):3453. |
入库方式： OAI收割
来源：上海光学精密机械研究所
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