样品厚度对薄膜法X射线荧光光谱测量的影响研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 甘婷婷1,2 ; 张玉钧1; 赵南京1; 殷高方1; 肖 雪1; 章 炜3; 刘建国1; 刘文清1
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| 刊名 | 光谱学与光谱分析
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| 出版日期 | 2016 |
| 卷号 | 36期号:12页码:4039-4044 |
| 源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/21640]  |
| 专题 | 合肥物质科学研究院_中科院安徽光学精密机械研究所 |
| 作者单位 | 1.中国科学院安徽光学精密机械研究所，环境光学与技术重点实验室，安徽省环境光学监测技术重点实验室，安徽 合肥 ２３００３１ 2.皖江新兴产业技术发展中心，安徽 铜陵 ２４４０００ 3.中国人民解放军陆军军官学院，安徽 合肥 ２３００３１ |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 甘婷婷,张玉钧,赵南京,等. 样品厚度对薄膜法X射线荧光光谱测量的影响研究[J]. 光谱学与光谱分析,2016,36(12):4039-4044. |
| APA | 甘婷婷.,张玉钧.,赵南京.,殷高方.,肖 雪.,...&刘文清.(2016).样品厚度对薄膜法X射线荧光光谱测量的影响研究.光谱学与光谱分析,36(12),4039-4044. |
| MLA | 甘婷婷,et al."样品厚度对薄膜法X射线荧光光谱测量的影响研究".光谱学与光谱分析 36.12(2016):4039-4044. |
入库方式： OAI收割
来源：合肥物质科学研究院
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