用GIEM室做辐射EMI测试的线性法
文献类型：专利
| 作者 | 陈志雨 ; 任列辉 |
| 发表日期 | 2010-12-24 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院电子学研究所 |
| 中文摘要 | 一种用GTEM室做辐射EMI测试的线性法，包括步骤：将待测物体(EUT)摆放在GTEM室中的转台上；确定待测物体(EUT)的各轴与GTEM室各轴的对应关系；转动转台将待测物体(EUT)沿GTEM室的垂直轴(y轴)逆时针转动α角；在某频率下测得以上6个数据后，由线性方程组解出EUT的等效电偶矩和等效磁偶矩；最后，计算在开阔场中的辐射场强。本发明可测量尺寸为50cm以内比波长短的电子设备，测量频率范围为10KHz-3GHz。本发明只要求在GTEM室中按规定的6个位置摆放时测量GTEM室的端口输出功率，即可通过 |
| 公开日期 | 2004-05-05 ; 2010-12-24 |
| 申请日期 | 2002-10-30 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN02150311.7 |
| 专利代理 | 戎志敏 |
| 源URL | [http://ir.ie.ac.cn/handle/80137/5441]  |
| 专题 | 电子学研究所_高功率微波与电磁辐射院重点实验室_高功率微波与电磁辐射院重点实验室_专利 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈志雨,任列辉 . 用GIEM室做辐射EMI测试的线性法. 2010-12-24. |
入库方式： OAI收割
来源：电子学研究所
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