测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法
文献类型：专利
| 作者 | 李阁平 ; 张利峰 ; 李明远 ; 王练 ; 彭胜 ; 吴松全 ; 高博 ; 顾恒飞 ; 庞丽侠 |
| 发表日期 | 2016-08-17 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 李阁平 ; 张利峰 ; 李明远 ; 王练 ; 彭胜 ; 吴松全 ; 高博 ; 顾恒飞 ; 庞丽侠 |
| 中文摘要 | 测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法 |
| 公开日期 | 2016-08-17 |
| 申请日期 | 2013-10-29 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | 201310525910.7 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/78806]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李阁平,张利峰,李明远,等. 测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法. 2016-08-17. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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