高陡度保形光学非球面环形子孔径检测方法
文献类型:期刊论文
作者 | 王洪浩; 明名; 吕天宇; 邹惠莹 |
刊名 | 红外与激光工程
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出版日期 | 2016-04-25 |
期号 | 4页码:148-154 |
关键词 | 高陡度 高精度检测 环形子孔径拼接 拼接算法 |
中文摘要 | 环形子孔径拼接技术检测大口径、高陡度光学非球面具有低成本、高效率的特点。提出一种基于最小二乘法和泽尼克多项式拟合的环形子孔径拼接方法检测高陡度光学非球面。研究了环形子孔径拼接算法的基本原理,对环形子孔径的划分方式进行数学公式推导及参数运算,建立被测非球面的有效数学模型。全口径的拼接结果与原始波面基本一致,二者PV和RMS差值分别为0.015 1λ、0.004 7λ(λ为632.8 nm),残差的PV和RMS值为0.043 5λ、0.005 2λ,验证该算法的有效性和准确性。 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/57643] ![]() |
专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王洪浩,明名,吕天宇,等. 高陡度保形光学非球面环形子孔径检测方法[J]. 红外与激光工程,2016(4):148-154. |
APA | 王洪浩,明名,吕天宇,&邹惠莹.(2016).高陡度保形光学非球面环形子孔径检测方法.红外与激光工程(4),148-154. |
MLA | 王洪浩,et al."高陡度保形光学非球面环形子孔径检测方法".红外与激光工程 .4(2016):148-154. |
入库方式: OAI收割
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