PI薄膜在经过程中热解固态产物结构的X射线衍射分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 赵根祥 ; 杨章玄 ; 张清香 ; 陶琨 |
| 刊名 | 高分子材料科学与工程
 |
| 出版日期 | 1998 |
| 卷号 | 14期号:5页码:131-135 |
| 合作状况 | 国内 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2011-04-02 ; 2011-06-09 |
| 源URL | [http://ir.sxicc.ac.cn/handle/0/3283]  |
| 专题 | 山西煤炭化学研究所_中科院炭材料重点实验室_中科院炭材料重点实验室_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵根祥,杨章玄,张清香,等. PI薄膜在经过程中热解固态产物结构的X射线衍射分析[J]. 高分子材料科学与工程,1998,14(5):131-135. |
| APA | 赵根祥,杨章玄,张清香,&陶琨.(1998).PI薄膜在经过程中热解固态产物结构的X射线衍射分析.高分子材料科学与工程,14(5),131-135. |
| MLA | 赵根祥,et al."PI薄膜在经过程中热解固态产物结构的X射线衍射分析".高分子材料科学与工程 14.5(1998):131-135. |
入库方式： OAI收割
来源：山西煤炭化学研究所
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