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恒电位电解法掺稀土对多孔硅光致发光性能的影响

文献类型:期刊论文

作者石建新 ; 张晓霞 ; 田峻 ; 张洪杰 ; 曾春莲 ; 龚孟濂
刊名中国稀土学会第四届学术年会论文集
出版日期2000
页码451-456
关键词稀土 多孔硅 光致发光 表面态 量子限制效应
中文摘要研究了恒电位电解法掺稀土(Er、Nd与Yb)对多孔硅(PS)室温可见区光致发光性能的影响。结果表明:适当高浓度稀土的掺入可以提高PS的发光强度、使PS发光波长蓝移;掺入稀土浓度过高对PS的发光起猝灭作用。掺稀土可以缩短PS发光衰减的平均寿命,而不影响衰减曲线的形状。提出用“表面态辅助的量子限制效应”观点来解释PS和掺稀土多孔硅的光致发光。
收录类别CSCD收录国内期刊论文
语种中文
公开日期2010-11-04 ; 2011-06-09
源URL[http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/20377]  
专题长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
石建新,张晓霞,田峻,等. 恒电位电解法掺稀土对多孔硅光致发光性能的影响[J]. 中国稀土学会第四届学术年会论文集,2000:451-456.
APA 石建新,张晓霞,田峻,张洪杰,曾春莲,&龚孟濂.(2000).恒电位电解法掺稀土对多孔硅光致发光性能的影响.中国稀土学会第四届学术年会论文集,451-456.
MLA 石建新,et al."恒电位电解法掺稀土对多孔硅光致发光性能的影响".中国稀土学会第四届学术年会论文集 (2000):451-456.

入库方式: OAI收割

来源:长春应用化学研究所

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