有机锡化合物的光电子能谱和质谱研究Ⅲ
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李兴林 ; 何晓智 |
| 刊名 | 光谱学与光谱分析
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| 出版日期 | 1999 |
| 卷号 | 19期号:2页码:142-144 |
| 关键词 | XPS MS 结合能 电子云 |
| ISSN号 | 1000-0593 |
| 中文摘要 | 本文利用光电子能谱(XPS)和质谱(MS)研究了12种有机锡化合物。通过XPS和MS讨论了化合物中取代基对锡内层电子的影响及对SnO键的影响。结果表明XPS和MS对有机锡化合物某些化学键性质的讨论具有互补性。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-04 ; 2011-06-09 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/22267]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李兴林,何晓智. 有机锡化合物的光电子能谱和质谱研究Ⅲ[J]. 光谱学与光谱分析,1999,19(2):142-144. |
| APA | 李兴林,&何晓智.(1999).有机锡化合物的光电子能谱和质谱研究Ⅲ.光谱学与光谱分析,19(2),142-144. |
| MLA | 李兴林,et al."有机锡化合物的光电子能谱和质谱研究Ⅲ".光谱学与光谱分析 19.2(1999):142-144. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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