电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素
文献类型：期刊论文
| 作者 | 曹淑琴 ; 陈杭亭 ; 曾宪津 |
| 刊名 | 光谱学与光谱分析
 |
| 出版日期 | 1999 |
| 卷号 | 19期号:6页码:854-857 |
| 关键词 | 电感耦合等离子体质谱法 高纯镉 杂质元素 |
| ISSN号 | 1000-0593 |
| 中文摘要 | 采用电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素。讨论了镉基体的谱线干扰，比较了镉基体产生的多原子离子的干扰程度，该干扰按Cdh、CdO、CdO2、CdAr、CdOH和CdOH2顺序递减。研究了不同浓度镉基体对分析物信号的抑制或增强效应，镉的浓度大于0.25·L-1时，对质量数小于100的分析物的信号强度产生抑制，而对质量数大于150的分析物的信号强度产生增强，采用89Y和209Bi作内标分别克服基体的抑制和增强效应。测定了高纯镉的As、Be、Co、Cu、Ga、Ge、Mn、Mo、Pb、Ni、Sr、Au、Tl、Th、V和U等16个杂质元素，方法的检测限0.005～0.052μｇ·L-1，标准加入回收率82%～108%。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-04 ; 2011-06-09 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/22271]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 曹淑琴,陈杭亭,曾宪津. 电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素[J]. 光谱学与光谱分析,1999,19(6):854-857. |
| APA | 曹淑琴,陈杭亭,&曾宪津.(1999).电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素.光谱学与光谱分析,19(6),854-857. |
| MLA | 曹淑琴,et al."电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素".光谱学与光谱分析 19.6(1999):854-857. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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