聚芳醚酮环状低聚物的基质辅助激光解吸电离质谱表征
文献类型：期刊论文
| 作者 | 季怡萍 ; 佘益民 ; 姜洪焱 ; 刘淑莹 |
| 刊名 | 分析测试学报
 |
| 出版日期 | 1999 |
| 卷号 | 18期号:5页码:50-51 |
| 关键词 | 聚芳醚酮 环状低聚物 聚合度 基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱 |
| ISSN号 | 1004-4957 |
| 中文摘要 | 采用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱(MALDI-TOF-MS)技术分别对2种合成的聚芳醚酮环状低聚物进行了分析研究 ,并讨论了低聚物中不同聚合度离子组分的分布规律。实验结果表明MALDI-TOF-MS是分析环状低聚物直观、准确、快速的分析工具。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-04 ; 2011-06-09 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/22343]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 季怡萍,佘益民,姜洪焱,等. 聚芳醚酮环状低聚物的基质辅助激光解吸电离质谱表征[J]. 分析测试学报,1999,18(5):50-51. |
| APA | 季怡萍,佘益民,姜洪焱,&刘淑莹.(1999).聚芳醚酮环状低聚物的基质辅助激光解吸电离质谱表征.分析测试学报,18(5),50-51. |
| MLA | 季怡萍,et al."聚芳醚酮环状低聚物的基质辅助激光解吸电离质谱表征".分析测试学报 18.5(1999):50-51. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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