稀土富勒烯电子结构的XPS研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 孙大勇 ; 李兴林 ; 徐文国 ; 刘淑莹 |
| 刊名 | 分析测试学报
 |
| 出版日期 | 1998 |
| 卷号 | 17期号:4页码:5-7 |
| 关键词 | 稀土富勒烯 X射线光电子能谱 电子结构 |
| ISSN号 | 1004-4957 |
| 中文摘要 | 采用Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）对富含稀土富勒烯Ｐｒ、Ｇｄ、Ｔｂ、Ｄｙ、Ｅｒ＠Ｃ２ｎ的吡啶提取液的固态沉积膜进行了研究，检测到明确的稀土元素的ＸＰＳ谱峰，表明富勒烯笼内嵌入的稀土元素具有特征的ＸＰＳ谱峰。通过对谱峰的分析，发现稀土富勒烯具有较为稳定的结构。嵌入的Ｐｒ、Ｇｄ、Ｔｂ、Ｄｙ、Ｅｒ等稀土元素与富勒烯球笼间存在电子的迁移。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-04 ; 2011-06-09 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/23521]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙大勇,李兴林,徐文国,等. 稀土富勒烯电子结构的XPS研究[J]. 分析测试学报,1998,17(4):5-7. |
| APA | 孙大勇,李兴林,徐文国,&刘淑莹.(1998).稀土富勒烯电子结构的XPS研究.分析测试学报,17(4),5-7. |
| MLA | 孙大勇,et al."稀土富勒烯电子结构的XPS研究".分析测试学报 17.4(1998):5-7. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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