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电场辐照前后某些中药有效成分的质谱分析

文献类型:期刊论文

作者宋凤瑞 ; 周雨 ; 刘淑莹 ; 王希路
刊名分析化学
出版日期1997
卷号25期号:10页码:1148-1152
关键词中药 电场辐照 快原子轰击质谱 解吸电子轰击质谱 底物效应
ISSN号0253-3820
通讯作者刘淑莹
中文摘要利用快原子轰击质谱(FABMS)及解吸电子轰击质谱(DEIMS)方法,分析了电场辐 照前后的5种中药有效成分,证明电场辐照灭菌并不改变其化学结构。讨论了底物效应及正、 负快原子轰击质谱的差异,以及与解吸电子轰击质谱的不同断裂规律,同时利用B/E联动扫 描(亚稳离子测定)进行了验证。
收录类别CSCD收录国内期刊论文
语种中文
公开日期2010-12-22 ; 2011-06-09
源URL[http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/24551]  
专题长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
宋凤瑞,周雨,刘淑莹,等. 电场辐照前后某些中药有效成分的质谱分析[J]. 分析化学,1997,25(10):1148-1152.
APA 宋凤瑞,周雨,刘淑莹,&王希路.(1997).电场辐照前后某些中药有效成分的质谱分析.分析化学,25(10),1148-1152.
MLA 宋凤瑞,et al."电场辐照前后某些中药有效成分的质谱分析".分析化学 25.10(1997):1148-1152.

入库方式: OAI收割

来源:长春应用化学研究所

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