电场辐照前后某些中药有效成分的质谱分析
文献类型:期刊论文
作者 | 宋凤瑞 ; 周雨 ; 刘淑莹 ; 王希路 |
刊名 | 分析化学
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出版日期 | 1997 |
卷号 | 25期号:10页码:1148-1152 |
关键词 | 中药 电场辐照 快原子轰击质谱 解吸电子轰击质谱 底物效应 |
ISSN号 | 0253-3820 |
通讯作者 | 刘淑莹 |
中文摘要 | 利用快原子轰击质谱(FABMS)及解吸电子轰击质谱(DEIMS)方法,分析了电场辐 照前后的5种中药有效成分,证明电场辐照灭菌并不改变其化学结构。讨论了底物效应及正、 负快原子轰击质谱的差异,以及与解吸电子轰击质谱的不同断裂规律,同时利用B/E联动扫 描(亚稳离子测定)进行了验证。 |
收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-12-22 ; 2011-06-09 |
源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/24551] ![]() |
专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 宋凤瑞,周雨,刘淑莹,等. 电场辐照前后某些中药有效成分的质谱分析[J]. 分析化学,1997,25(10):1148-1152. |
APA | 宋凤瑞,周雨,刘淑莹,&王希路.(1997).电场辐照前后某些中药有效成分的质谱分析.分析化学,25(10),1148-1152. |
MLA | 宋凤瑞,et al."电场辐照前后某些中药有效成分的质谱分析".分析化学 25.10(1997):1148-1152. |
入库方式: OAI收割
来源:长春应用化学研究所
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