锡、锗化合物的光电子能谱和质谱研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李兴林 ; 张瑞峰 ; 崔勐 |
| 刊名 | 光谱学与光谱分析
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| 出版日期 | 1997 |
| 卷号 | 17期号:4页码:33-37 |
| 关键词 | XPS MS 电子云、电负性、结合能 |
| ISSN号 | 1000-0593 |
| 中文摘要 | 用光电子能谱（ＸＰＳ）和质谱（ＭＳ）分别研究了９种锗、锡的化合物Ｇｅ３ｄ、Ｓｎ３ｄ轨道电子结合能化学位移与其所处不同化学环境的关系。着重讨论了取代基团电负性对Ｇｅ３ｄ、Ｓｎ３ｄ结合能化学位移的影响。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-12-22 ; 2011-06-09 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/24701]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李兴林,张瑞峰,崔勐. 锡、锗化合物的光电子能谱和质谱研究[J]. 光谱学与光谱分析,1997,17(4):33-37. |
| APA | 李兴林,张瑞峰,&崔勐.(1997).锡、锗化合物的光电子能谱和质谱研究.光谱学与光谱分析,17(4),33-37. |
| MLA | 李兴林,et al."锡、锗化合物的光电子能谱和质谱研究".光谱学与光谱分析 17.4(1997):33-37. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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