铜的价态光电子能谱和X光引发的Auger谱分析
文献类型:期刊论文
作者 | 李兴林 ; 张瑞峰 |
刊名 | 光谱学与光谱分析
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出版日期 | 1996 |
卷号 | 16期号:3页码:119-123 |
关键词 | 铜的价态 电子能谱 Auger谱 伴线指纹法 |
ISSN号 | 1000-0593 |
通讯作者 | 张瑞峰 |
中文摘要 | 在合金或化合物中,准确地确定铜的价态(Cu0、Cu+、Cu2+和Cu3+)是很复杂的。采用X光电子能谱学中的峰位确认法、伴线指纹法、Auger参数法是十分方便的。本文报道了有关,CuL3M45M45电子结合能(eV)和动能(eV)标量的变化,讨论了标准样品金属铜、Cu2O、CuCl、CuO、CuCl2及超导样品YBa2Cu3O7中铜的价态简捷鉴别法。 |
收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-12-22 ; 2011-06-10 |
源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/25905] ![]() |
专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李兴林,张瑞峰. 铜的价态光电子能谱和X光引发的Auger谱分析[J]. 光谱学与光谱分析,1996,16(3):119-123. |
APA | 李兴林,&张瑞峰.(1996).铜的价态光电子能谱和X光引发的Auger谱分析.光谱学与光谱分析,16(3),119-123. |
MLA | 李兴林,et al."铜的价态光电子能谱和X光引发的Auger谱分析".光谱学与光谱分析 16.3(1996):119-123. |
入库方式: OAI收割
来源:长春应用化学研究所
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