XPS研究中几种参数对CdS中Cd 3d结合能的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李兴林 ; 张瑞峰 |
| 刊名 | 仪器仪表学报
 |
| 出版日期 | 1996 |
| 卷号 | 17期号:1页码:36-40 |
| 关键词 | XPS 结合能 化学位移 |
| ISSN号 | 0254-3087 |
| 中文摘要 | 本文着重从仪器本身参数方面和样品方面讨论了由于各参数的不同，对电子结合能的影响。通过半导体ＣｄＳ膜的研究，探讨了Ｃｄ ３ｄ５／２，Ｃｄ ３ｄ３／２特征峰结合能的变化规律，分析了这种变化在测试中带来的影响。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-12-22 ; 2011-06-10 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/26095]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李兴林,张瑞峰. XPS研究中几种参数对CdS中Cd 3d结合能的影响[J]. 仪器仪表学报,1996,17(1):36-40. |
| APA | 李兴林,&张瑞峰.(1996).XPS研究中几种参数对CdS中Cd 3d结合能的影响.仪器仪表学报,17(1),36-40. |
| MLA | 李兴林,et al."XPS研究中几种参数对CdS中Cd 3d结合能的影响".仪器仪表学报 17.1(1996):36-40. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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