有机锗化合物的光电子能谱研究
文献类型:期刊论文
作者 | 李兴林 ; 张瑞峰 ; 于英 |
刊名 | 分析测试学报
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出版日期 | 1994 |
卷号 | 13期号:4页码:77-80 |
关键词 | XPS 电子云 结合能 电负性 |
ISSN号 | 1004-4957 |
通讯作者 | 张瑞峰 |
中文摘要 | 用X射线光电子能谱法(XPS)研究了六种有机锗化合物的Ge3d轨道电子结合能化学位移与锗所处不同化学环境的关系。结果表明,对Ge3d轨道电子结合能化学位移有明显影响的关键取决于极性基团。 |
收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-12-30 ; 2011-06-10 |
源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/28283] ![]() |
专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李兴林,张瑞峰,于英. 有机锗化合物的光电子能谱研究[J]. 分析测试学报,1994,13(4):77-80. |
APA | 李兴林,张瑞峰,&于英.(1994).有机锗化合物的光电子能谱研究.分析测试学报,13(4),77-80. |
MLA | 李兴林,et al."有机锗化合物的光电子能谱研究".分析测试学报 13.4(1994):77-80. |
入库方式: OAI收割
来源:长春应用化学研究所
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