有机锗化合物的光电子能谱研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李兴林 ; 张瑞峰 ; 于英 |
| 刊名 | 分析测试学报
 |
| 出版日期 | 1994 |
| 卷号 | 13期号:4页码:77-80 |
| 关键词 | XPS 电子云 结合能 电负性 |
| ISSN号 | 1004-4957 |
| 通讯作者 | 张瑞峰 |
| 中文摘要 | 用Ｘ射线光电子能谱法（ＸＰＳ）研究了六种有机锗化合物的Ｇｅ３ｄ轨道电子结合能化学位移与锗所处不同化学环境的关系。结果表明，对Ｇｅ３ｄ轨道电子结合能化学位移有明显影响的关键取决于极性基团。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-12-30 ; 2011-06-10 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/28283]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李兴林,张瑞峰,于英. 有机锗化合物的光电子能谱研究[J]. 分析测试学报,1994,13(4):77-80. |
| APA | 李兴林,张瑞峰,&于英.(1994).有机锗化合物的光电子能谱研究.分析测试学报,13(4),77-80. |
| MLA | 李兴林,et al."有机锗化合物的光电子能谱研究".分析测试学报 13.4(1994):77-80. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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