X-射线荧光分析中薄膜试样的面积和厚度对分析结果的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 贺春福 ; 任红星 |
| 刊名 | 分析化学
 |
| 出版日期 | 1993 |
| 卷号 | 21期号:4页码:458-460 |
| 关键词 | 薄膜法制备样品 微量试样 X-射线荧光谱法 |
| ISSN号 | 0253-3820 |
| 通讯作者 | 贺春福 |
| 中文摘要 | 本文就薄膜法制样、用X-射线荧光谱法分析稀土样品时,试样面积和厚度对分析结果产生的影响作了定量研究,提出的有关分析条件和参数用于实际样品分析中,获得了满意的分析结果。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2011-01-19 ; 2011-06-10 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/36497]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 贺春福,任红星. X-射线荧光分析中薄膜试样的面积和厚度对分析结果的影响[J]. 分析化学,1993,21(4):458-460. |
| APA | 贺春福,&任红星.(1993).X-射线荧光分析中薄膜试样的面积和厚度对分析结果的影响.分析化学,21(4),458-460. |
| MLA | 贺春福,et al."X-射线荧光分析中薄膜试样的面积和厚度对分析结果的影响".分析化学 21.4(1993):458-460. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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