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掺Sb、Sn和Cd的In_2O_3的电性研究

文献类型:期刊论文

作者文世杰 ; G.Campet ; J.Portier ; 洪广言
刊名功能材料
出版日期1993
卷号24期号:4页码:381-384
关键词掺杂 In_2O_3 电导率
ISSN号1001-9731
通讯作者洪广言
中文摘要本文研究了掺杂Sb、S_n及Cd的In_2O_3的电性质,并与纯的In_2O_3进行比较,得到一些有意义的结果。IO的电导率及载流子浓度主要由氧缺位所致;ITO和ISO的电导率和载流子浓度,主要由掺杂元素所致;掺Sn的电导率、载流子浓度和迁移率高于掺Sb,其原因在于在同样掺杂浓度的条件下,ITO中的中性杂质浓度低于ISO及掺Sn后使电子离域程度增大。在掺Cd浓度高时,随着Cd浓度增加,电导率和载流子浓度均降低。
收录类别CSCD收录国内期刊论文
语种中文
公开日期2011-01-19 ; 2011-06-10
源URL[http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/36955]  
专题长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
文世杰,G.Campet,J.Portier,等. 掺Sb、Sn和Cd的In_2O_3的电性研究[J]. 功能材料,1993,24(4):381-384.
APA 文世杰,G.Campet,J.Portier,&洪广言.(1993).掺Sb、Sn和Cd的In_2O_3的电性研究.功能材料,24(4),381-384.
MLA 文世杰,et al."掺Sb、Sn和Cd的In_2O_3的电性研究".功能材料 24.4(1993):381-384.

入库方式: OAI收割

来源:长春应用化学研究所

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