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高纯金属镨中痕量稀土杂质的电感耦合等离子体原子发射光谱分析及光谱干扰的校正

文献类型:期刊论文

作者袁甫 ; 綦文娣 ; 郝志平
刊名光谱实验室
出版日期1993
卷号10期号:4页码:1-5
关键词金属镨 电感耦合等离子体 光谱干扰 痕量稀土杂质
ISSN号1004-8138
中文摘要本文提出了PGS-2型平面光栅光谱仪(色散率0.18纳米,二级光谱)与Plasma Therm ICP-5000D射频发生器联用,乙醇预去溶方式进样,同时直接测定高纯金属镨中5个痕量稀土杂质元素的方法。并讨论了基体浓度对检出限的影响以及光谱干扰及其校正方法。当样品溶液中镨的浓度为5毫克/毫升时,测定下限分别为镧、钕和钐0.002%,铈0.003%和钇0.0005%。获得了良好的实验结果,并相对标准偏差为1.2-6.2%。
收录类别CSCD收录国内期刊论文
语种中文
公开日期2011-01-19 ; 2011-06-10
源URL[http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/37077]  
专题长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
袁甫,綦文娣,郝志平. 高纯金属镨中痕量稀土杂质的电感耦合等离子体原子发射光谱分析及光谱干扰的校正[J]. 光谱实验室,1993,10(4):1-5.
APA 袁甫,綦文娣,&郝志平.(1993).高纯金属镨中痕量稀土杂质的电感耦合等离子体原子发射光谱分析及光谱干扰的校正.光谱实验室,10(4),1-5.
MLA 袁甫,et al."高纯金属镨中痕量稀土杂质的电感耦合等离子体原子发射光谱分析及光谱干扰的校正".光谱实验室 10.4(1993):1-5.

入库方式: OAI收割

来源:长春应用化学研究所

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