自模型曲线分辨法校正电感耦合等离子体原子发射光谱中严重谱线重叠干扰
文献类型:期刊论文
作者 | 张卓勇 ; 朴哲秀 ; 曾宪津 ; 杨金夫 ; 陈新海 ; 关秋荻 |
刊名 | 分析化学
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出版日期 | 1992 |
卷号 | 20期号:2页码:180-182 |
关键词 | 电感耦合等离子体 干扰校正 曲线分辨 |
ISSN号 | 0253-3820 |
通讯作者 | 张卓勇 |
中文摘要 | 对严重重叠的光谱干扰校正,采用较小间隔的光谱扫描测量,并用间隔扫描点的数据计算,可减小计算结果的误差,提高结果的准确性。本方法用于校正Nd359.259nm对Sm359.260nm和V328.939nm对Yb328.937nm谱线重叠干扰,得到了满意的结果。 |
收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2011-01-19 ; 2011-06-10 |
源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/37481] ![]() |
专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张卓勇,朴哲秀,曾宪津,等. 自模型曲线分辨法校正电感耦合等离子体原子发射光谱中严重谱线重叠干扰[J]. 分析化学,1992,20(2):180-182. |
APA | 张卓勇,朴哲秀,曾宪津,杨金夫,陈新海,&关秋荻.(1992).自模型曲线分辨法校正电感耦合等离子体原子发射光谱中严重谱线重叠干扰.分析化学,20(2),180-182. |
MLA | 张卓勇,et al."自模型曲线分辨法校正电感耦合等离子体原子发射光谱中严重谱线重叠干扰".分析化学 20.2(1992):180-182. |
入库方式: OAI收割
来源:长春应用化学研究所
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