自模型曲线分辨法校正ICP-AES中谱线重叠干扰——测量误差对结果的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张卓勇 ; 朴哲秀 ; 曾宪津 |
| 刊名 | 光谱学与光谱分析
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| 出版日期 | 1992 |
| 卷号 | 12期号:2页码:63-68 |
| 关键词 | 感耦等离子体原子发射光谱分析 曲线分辨 误差 |
| ISSN号 | 1000-0593 |
| 通讯作者 | 张卓勇 |
| 中文摘要 | 本文将自模型曲线分辨方法(SMCR)应用于ICP-AES谱线重叠光谱干扰的校正,并就测量误差对重叠光谱解析结果的影响作了详细的研究和讨论。两谱线的重叠程度越大,随机误差对光谱干扰校正的影响越大。对测量数据作平滑处理。可以减小数据随机误差对结果的影响,但平滑次数增加,将导致光谱图变形,使干扰校正结果产生较大的误差。数据的平滑不能减小光谱偏离加和性的误差。本工作对两条光谱重叠的情况作了讨论,并取得了较好的结果,表明SMCR法是校正ICP-AES中重叠谱线干扰的一种简便、快速的方法。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2011-01-19 ; 2011-06-10 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/37875]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张卓勇,朴哲秀,曾宪津. 自模型曲线分辨法校正ICP-AES中谱线重叠干扰——测量误差对结果的影响[J]. 光谱学与光谱分析,1992,12(2):63-68. |
| APA | 张卓勇,朴哲秀,&曾宪津.(1992).自模型曲线分辨法校正ICP-AES中谱线重叠干扰——测量误差对结果的影响.光谱学与光谱分析,12(2),63-68. |
| MLA | 张卓勇,et al."自模型曲线分辨法校正ICP-AES中谱线重叠干扰——测量误差对结果的影响".光谱学与光谱分析 12.2(1992):63-68. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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