光热偏转光谱技术研究薄层试样浓度的光热衰减特性
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王松岳 ; 金巨广 ; 孙孝忠 ; 王秀兰 |
| 刊名 | 光谱学与光谱分析
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| 出版日期 | 1992 |
| 卷号 | 12期号:5页码:7-9 |
| 关键词 | 光热偏转光谱技术 新应用的可能性 光束照射时间 薄层色谱 |
| ISSN号 | 1000-0593 |
| 中文摘要 | 本文报道了以品红和结晶紫样品,研究了光热偏转信号随激发光束照射时间变化的规律,同时探讨了这一方法新应用的可能性。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2011-01-19 ; 2011-06-10 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/37887]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王松岳,金巨广,孙孝忠,等. 光热偏转光谱技术研究薄层试样浓度的光热衰减特性[J]. 光谱学与光谱分析,1992,12(5):7-9. |
| APA | 王松岳,金巨广,孙孝忠,&王秀兰.(1992).光热偏转光谱技术研究薄层试样浓度的光热衰减特性.光谱学与光谱分析,12(5),7-9. |
| MLA | 王松岳,et al."光热偏转光谱技术研究薄层试样浓度的光热衰减特性".光谱学与光谱分析 12.5(1992):7-9. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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