中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
光热偏转光谱技术研究薄层试样浓度的光热衰减特性

文献类型:期刊论文

作者王松岳 ; 金巨广 ; 孙孝忠 ; 王秀兰
刊名光谱学与光谱分析
出版日期1992
卷号12期号:5页码:7-9
关键词光热偏转光谱技术 新应用的可能性 光束照射时间 薄层色谱
ISSN号1000-0593
中文摘要本文报道了以品红和结晶紫样品,研究了光热偏转信号随激发光束照射时间变化的规律,同时探讨了这一方法新应用的可能性。
收录类别CSCD收录国内期刊论文
语种中文
公开日期2011-01-19 ; 2011-06-10
源URL[http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/37887]  
专题长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
王松岳,金巨广,孙孝忠,等. 光热偏转光谱技术研究薄层试样浓度的光热衰减特性[J]. 光谱学与光谱分析,1992,12(5):7-9.
APA 王松岳,金巨广,孙孝忠,&王秀兰.(1992).光热偏转光谱技术研究薄层试样浓度的光热衰减特性.光谱学与光谱分析,12(5),7-9.
MLA 王松岳,et al."光热偏转光谱技术研究薄层试样浓度的光热衰减特性".光谱学与光谱分析 12.5(1992):7-9.

入库方式: OAI收割

来源:长春应用化学研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。