Single photon emission from deep-level defects in monolayer WSe2
文献类型：期刊论文
| 作者 | Yanxia Ye; Xiuming Dou; * Kun Ding; Yu Chen; Desheng Jiang; Fuhua Yang; Baoquan Sun |
| 刊名 | PHYSICAL REVIEW B
 |
| 出版日期 | 2017 |
| 卷号 | 95期号:24页码:245313(5) |
| 学科主题 | 半导体物理 |
| 公开日期 | 2018-06-15 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/28549]  |
| 专题 | 半导体研究所_半导体超晶格国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Yanxia Ye,Xiuming Dou,* Kun Ding,et al. Single photon emission from deep-level defects in monolayer WSe2[J]. PHYSICAL REVIEW B,2017,95(24):245313(5). |
| APA | Yanxia Ye.,Xiuming Dou.,* Kun Ding.,Yu Chen.,Desheng Jiang.,...&Baoquan Sun.(2017).Single photon emission from deep-level defects in monolayer WSe2.PHYSICAL REVIEW B,95(24),245313(5). |
| MLA | Yanxia Ye,et al."Single photon emission from deep-level defects in monolayer WSe2".PHYSICAL REVIEW B 95.24(2017):245313(5). |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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