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一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法

文献类型:专利

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作者陈池来 刘友江 张晓天 阮智铭 林新华 朱利凯 王英先 孔德义 殷世平
发表日期2015
专利国别中国
专利号公开号 CN 104934286 A
专利类型发明
权利人中国科学院
申请日期2015
专利申请号201510224633.5
源URL[http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/21398]  
专题合肥物质科学研究院_中科院合肥智能机械研究所
作者单位中国科学院合肥物质科学研究院智能所
推荐引用方式
GB/T 7714
陈池来 刘友江 张晓天 阮智铭 林新华 朱利凯 王英先 孔德义 殷世平. 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种高分辨高场不对称波形离子迁移谱仪及其物质检测方法. 公开号 CN 104934286 A. 2015-01-01.

入库方式: OAI收割

来源:合肥物质科学研究院

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