一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法
文献类型：专利
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| 作者 | 陈池来 王泓伟 张晓天 李山 余健文 王焕钦 倪林 孔德义 王英先 唐敏 |
| 发表日期 | 2015 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | 公开号 CN 104934287 A |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院 |
| 申请日期 | 2015 |
| 专利申请号 | 201510224886.2 |
| 源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/21399]  |
| 专题 | 合肥物质科学研究院_中科院合肥智能机械研究所 |
| 作者单位 | 中国科学院合肥物质科学研究院智能所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈池来 王泓伟 张晓天 李山 余健文 王焕钦 倪林 孔德义 王英先 唐敏. 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法, 一种低场差分离子迁移谱仪及其物质检测方法. 公开号 CN 104934287 A. 2015-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：合肥物质科学研究院
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