用XPS、SIMS对稀土-6063铝合金表面状态的研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 胡刚 ; 赵敏寿 ; 吕翔平 |
| 刊名 | 中国稀土学报
 |
| 出版日期 | 1990 |
| 卷号 | 8期号:4页码:346-349 |
| ISSN号 | 1000-4343 |
| 中文摘要 | 用X射线光电子能谱(XPS)和二次离子质谱仪(SIMS)等表面分析方法对稀土-6063铝合金进行了研究,发现稀土铝合金的表面为金属铝和铝的氧化物两种形态。稀土及镁两者的协同作用,可以缓和铝合金的氧化程度。SIMS结果表明,加入适量稀土,可以抑制镁在稀土-6063铝合金的表面偏析作用。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2011-03-03 ; 2011-06-10 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/39931]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 胡刚,赵敏寿,吕翔平. 用XPS、SIMS对稀土-6063铝合金表面状态的研究[J]. 中国稀土学报,1990,8(4):346-349. |
| APA | 胡刚,赵敏寿,&吕翔平.(1990).用XPS、SIMS对稀土-6063铝合金表面状态的研究.中国稀土学报,8(4),346-349. |
| MLA | 胡刚,et al."用XPS、SIMS对稀土-6063铝合金表面状态的研究".中国稀土学报 8.4(1990):346-349. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。