一种位姿测算光学仪器及调试方法
文献类型:专利
作者 | 柴文义; 许哲; 宋宗玺; 袁灏; 朱波; 黄超 |
发表日期 | 2016-12-29 |
专利号 | CN201611250238.5 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明 |
英文摘要 | 本发明涉及光学测量装置领域,具体涉及一种位姿测算光学仪器及调试方法。主要解决了现有的位姿测算仪器测算数据可信度低、不能承受严酷的力学和热学环境,位姿测算光学仪器调试过程复杂的问题。位姿测算光学仪器包括光学相机、多个激光器组件和光学镜头;所述激光器组件和光学镜头均设置于光学相机上,光学相机设置有图像探测器和图像数据处理电路;光学镜头的光轴与图像探测器的视轴重合,光学镜头的光轴与图像探测器感光面垂直;激光器组件包括激光器和调整垫,调整垫设置于激光器与光学相机之间,多个激光器组件以光学镜头的光轴为中心沿圆周方向均布,激光器的光轴与光学镜头的光轴形成一定的夹角。 |
公开日期 | 2017-04-26 |
语种 | 中文 |
状态 | 审查中-实审 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/29595] ![]() |
专题 | 西安光学精密机械研究所_空间光学应用研究室 |
作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 柴文义,许哲,宋宗玺,等. 一种位姿测算光学仪器及调试方法. CN201611250238.5. 2016-12-29. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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