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透射光学元件疵病测试装置及方法

文献类型:专利

作者陈永权; 段亚轩; 赵建科; 李坤; 聂申; 宋琦
发表日期2016-12-13
专利号CN201611147850.X
国家中国
文献子类发明
英文摘要为了解决传统测试方法耗时耗力、对光学元件内部的疵病测量受限的弊端,本发明提供了一种透射光学元件疵病的测试装置及方法,其中装置包括激光器、准直镜、定焦镜头、CCD、移动机构和采集控制计算机;所述准直镜设置在激光器的输出光路上;所述定焦镜头和CCD刚性连接组成成像系统,成像系统的监视面通过定焦镜头和CCD感光面成共轭关系;所述成像系统固定在移动机构上;所述移动机构与采集控制计算机相连。
公开日期2017-06-13
语种中文
状态审查中-实审
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/29642]  
专题西安光学精密机械研究所_先进光学仪器研究室
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
陈永权,段亚轩,赵建科,等. 透射光学元件疵病测试装置及方法. CN201611147850.X. 2016-12-13.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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