两步激发激光增强电离光谱分析——半导体硅中钠的测定
文献类型：期刊论文
| 作者 | 杜继贤 ; 李华成 ; 潘利华 ; 陈杭亭 ; 廉君秀 ; 金昌泰 ; 王成飞 ; 张佩环 |
| 刊名 | 分析化学
 |
| 出版日期 | 1990 |
| 卷号 | 18期号:7页码:607-612 |
| 关键词 | 激光增强电离光谱 两步激发 半导体硅 |
| ISSN号 | 0253-3820 |
| 通讯作者 | 杜继贤 |
| 中文摘要 | 本工作做了方法原理性实验,给出两步与一步激发激光增强电离(LEI)光谱相比较的钠的标准曲线、检出限以及在不同钠浓度下的相对标准偏差。并将该技术应用到实际样品半导体硅中钠的测定。标准加入回收率在82～125％范围之内。实验证明该技术对实际样品分析是可行的。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2011-03-03 ; 2011-06-10 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/40355]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杜继贤,李华成,潘利华,等. 两步激发激光增强电离光谱分析——半导体硅中钠的测定[J]. 分析化学,1990,18(7):607-612. |
| APA | 杜继贤.,李华成.,潘利华.,陈杭亭.,廉君秀.,...&张佩环.(1990).两步激发激光增强电离光谱分析——半导体硅中钠的测定.分析化学,18(7),607-612. |
| MLA | 杜继贤,et al."两步激发激光增强电离光谱分析——半导体硅中钠的测定".分析化学 18.7(1990):607-612. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
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