适应恶劣条件CID广角电视光学系统
文献类型：成果
| 作者 | 薛鸣球; 张耀明; 苗兴华; 梁志毅; 刘新平; 陈良益 |
| 获奖日期 | 1992 |
| 文献子类 | 省部科学技术进步奖 |
| 奖励等级 | 院级三等奖 |
| 英文摘要 | 薄片干涉测定仪由激光器、一对平行平晶、样品台和显微摄影仪等组成。将磨制好的自聚焦薄片置于光路中即产生干涉条纹，由干涉环半径和从中心数的环的序数即可测出样品折射率的径向分布。本仪器对折射率差的测量范围为0~0.1,可测量最大直径为4毫米。能天象地观察材料的折射率分布并精确测定离子交换的深度。 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/19351]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前) |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 薛鸣球,张耀明,苗兴华,等. 适应恶劣条件CID广角电视光学系统. . 1992. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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