单光子计数探测系统的线性性能研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 彭如意; 王天放; 贾楠; 李宇嘉; 付利平 |
| 刊名 | 光学技术
 |
| 出版日期 | 2017 |
| 卷号 | 43期号:2页码:180-183 |
| 关键词 | 光学测量 微弱光探测 单光子计数 线性 叠加法 距离平方反比法 |
| ISSN号 | 1002-1582 |
| 其他题名 | Research on the linearity of the single photon counting detection system |
| 英文摘要 | 利用单光子计数技术对微弱光进行探测具有与其他模拟法相比的多个优势,如有好的抗漂移性、高的信噪比、较宽的线性区等。线性性能是探测器的基本性能之一,利用叠加法和距离平方反比法测量单光子计数探测系统的线性范围,当非线性因子为0.05时,利用叠加法实验测得系统线性响应计数率为3.9*10~5 Counts/s,利用距离平方反比法实验测得系统线性响应计数率为5*10~5 Counts/s。结果表明,两种方法测得响应线性度一致性较好。分析了电子学系统的漏计误差对探测器系统线性范围的影响。实验表明,通过缩短电子学系统中甄别器的死区时间(t_d)可以提高系统的线性范围。 |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:5934796 |
| 源URL | [http://ir.nssc.ac.cn/handle/122/6158]  |
| 专题 | 国家空间科学中心_空间环境部 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 彭如意,王天放,贾楠,等. 单光子计数探测系统的线性性能研究[J]. 光学技术,2017,43(2):180-183. |
| APA | 彭如意,王天放,贾楠,李宇嘉,&付利平.(2017).单光子计数探测系统的线性性能研究.光学技术,43(2),180-183. |
| MLA | 彭如意,et al."单光子计数探测系统的线性性能研究".光学技术 43.2(2017):180-183. |
入库方式： OAI收割
来源：国家空间科学中心
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