L2-Net: Deep Learning of Discriminative Patch Descriptor in Euclidean Space
文献类型：会议论文
| 作者 | Yurun Tian ; Bin Fan; Fuchao Wu
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| 出版日期 | 2017 |
| 会议日期 | 2017 |
| 会议地点 | USA |
| 源URL | [http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/19697]  |
| 专题 | 自动化研究所_模式识别国家重点实验室_遥感图像处理团队 |
| 作者单位 | National Laboratory of Pattern Recognition, Institute of Automation, Chinese Academy of Sciences |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Yurun Tian,Bin Fan,Fuchao Wu. L2-Net: Deep Learning of Discriminative Patch Descriptor in Euclidean Space[C]. 见:. USA. 2017. |
入库方式： OAI收割
来源：自动化研究所
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