动态时序分析及其在纳米级IC设计中的应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张富彬; HOChing-Yen; 彭思龙 ; ZHANGFu-bin; HOChing-Yen; PENGSi-long,
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| 刊名 | 电子器件,
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| 出版日期 | 2007 |
| 卷号 | 30(1)期号:1页码:13-16 |
| 关键词 | 动态时序分析 静态敏化 动态敏化 / 电源噪声 / 串扰噪声 |
| 英文摘要 | 文章讨论了动态时序分析算法及其在纳米级IC设计中的应用.首 先,针对静态敏化算法存在的静态伪路径(Static False Path)问题,提出了动态敏化算法,分析了静态敏化和动态敏化的关系.最后讨论了在电源噪声和串扰噪声影响下的动态时序分析.实验结果表明,串扰噪声条 件下的动态时序分析结果比静态时序分析给出的保守结果准确得多. |
| 源URL | [http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/12932]  |
| 专题 | 自动化研究所_智能制造技术与系统研究中心_多维数据分析团队 |
| 通讯作者 | 张富彬 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张富彬,HOChing-Yen,彭思龙,等. 动态时序分析及其在纳米级IC设计中的应用[J]. 电子器件,,2007,30(1)(1):13-16. |
| APA | 张富彬,HOChing-Yen,彭思龙,ZHANGFu-bin,HOChing-Yen,&PENGSi-long,.(2007).动态时序分析及其在纳米级IC设计中的应用.电子器件,,30(1)(1),13-16. |
| MLA | 张富彬,et al."动态时序分析及其在纳米级IC设计中的应用".电子器件, 30(1).1(2007):13-16. |
入库方式： OAI收割
来源：自动化研究所
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