iVAT and aVAT: visual analysis for cluster tendency assessment
文献类型：会议论文
| 作者 | Liang Wang ; Uyen Nguyen; Christopher Leckie; James Bezdek; Ramamohanarao Kotagiri
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| 出版日期 | 2010 |
| 会议日期 | 2010 |
| 页码 | 16-27 |
| 源URL | [http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/14082]  |
| 专题 | 自动化研究所_智能感知与计算研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Liang Wang,Uyen Nguyen,Christopher Leckie,et al. iVAT and aVAT: visual analysis for cluster tendency assessment[C]. 见:. 2010. |
入库方式： OAI收割
来源：自动化研究所
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