Homogeneity characterization of lattice spacing of28Si single crystals
文献类型：期刊论文
| 作者 | Zhang, X.W.3; Fujii, K.2; Waseda, A.2; Fujimoto, H.2; Zhang XW(张小威); Kuramoto, N.2 |
| 刊名 | CPEM 2016 - Conference on Precision Electromagnetic Measurements, Conference Digest
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| 出版日期 | 2016 |
| DOI | 10.1109/CPEM.2016.7540582 |
| 语种 | 英语 |
| WOS记录号 | WOS:000383955100131 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/260323]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 作者单位 | 1.中国科学院高能物理研究所 2.National Research Institute of Japan (NMIJ), AIST, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 3.305-8563, Japan |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Zhang, X.W.,Fujii, K.,Waseda, A.,et al. Homogeneity characterization of lattice spacing of28Si single crystals[J]. CPEM 2016 - Conference on Precision Electromagnetic Measurements, Conference Digest,2016. |
| APA | Zhang, X.W.,Fujii, K.,Waseda, A.,Fujimoto, H.,张小威,&Kuramoto, N..(2016).Homogeneity characterization of lattice spacing of28Si single crystals.CPEM 2016 - Conference on Precision Electromagnetic Measurements, Conference Digest. |
| MLA | Zhang, X.W.,et al."Homogeneity characterization of lattice spacing of28Si single crystals".CPEM 2016 - Conference on Precision Electromagnetic Measurements, Conference Digest (2016). |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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