中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
A THz Driven Transverse Deflector for Femtosecond Longitudinal Profile Diagnostics

文献类型:会议论文

作者S.P.Jamison; E.W.Snedden; D.A.Walsh
出版日期2016
会议日期2016
会议地点Barcelona
会议录Proceedings of the 5th International Beam Instrumentation Conference
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/258894]  
专题高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC
作者单位STFC/DL/ASTeC, Daresbury, Warrington, Cheshire, United Kingdom
推荐引用方式
GB/T 7714
S.P.Jamison,E.W.Snedden,D.A.Walsh. A THz Driven Transverse Deflector for Femtosecond Longitudinal Profile Diagnostics[C]. 见:. Barcelona. 2016.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。