A High Resolution Single-Shot Longitudinal Profile Diagnostic Using Electro-Optic Transposition
文献类型：会议论文
| 作者 | D.A.Walsh; S.P.Jamison; E.W.Snedden |
| 出版日期 | 2016 |
| 会议日期 | 2016 |
| 会议地点 | Barcelona |
| 会议录 | Proceedings of the 5th International Beam Instrumentation Conference
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| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/258895]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
| 作者单位 | STFC/DL/ASTeC, Daresbury, Warrington, Cheshire, United Kingdom |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | D.A.Walsh,S.P.Jamison,E.W.Snedden. A High Resolution Single-Shot Longitudinal Profile Diagnostic Using Electro-Optic Transposition[C]. 见:. Barcelona. 2016. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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