Profile Measurement by the Ionization Profile Monitor with 0.2T Magnet System in J-PARC MR
文献类型：会议论文
| 作者 | K.Satou; H.Kuboki; T.Toyama |
| 出版日期 | 2016 |
| 会议日期 | 2016 |
| 会议地点 | Barcelona |
| 会议录 | Proceedings of the 5th International Beam Instrumentation Conference
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| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/258911]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
| 作者单位 | J-PARC, KEK & JAEA, Ibaraki-ken, Japan |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | K.Satou,H.Kuboki,T.Toyama. Profile Measurement by the Ionization Profile Monitor with 0.2T Magnet System in J-PARC MR[C]. 见:. Barcelona. 2016. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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