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X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament

文献类型:期刊论文

作者Liu BD(刘宝东); Liu, J., Y. Ma, W. Zhao, G. Niu, M. Chu, B. Yin, L. Han and B. Liu
刊名SPIE Proceedings
出版日期2016
期号9685页码:96850I-96850I-96856
DOI10.1117/12.2241728
WOS记录号WOS:000387429600018
源URL[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/260521]  
专题高能物理研究所_核技术应用研究中心
作者单位中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Liu BD,Liu, J., Y. Ma, W. Zhao, G. Niu, M. Chu, B. Yin, L. Han and B. Liu. X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament[J]. SPIE Proceedings,2016(9685):96850I-96850I-96856.
APA 刘宝东,&Liu, J., Y. Ma, W. Zhao, G. Niu, M. Chu, B. Yin, L. Han and B. Liu.(2016).X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament.SPIE Proceedings(9685),96850I-96850I-96856.
MLA 刘宝东,et al."X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament".SPIE Proceedings .9685(2016):96850I-96850I-96856.

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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