X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament
文献类型:期刊论文
作者 | Liu BD(刘宝东); Liu, J., Y. Ma, W. Zhao, G. Niu, M. Chu, B. Yin, L. Han and B. Liu |
刊名 | SPIE Proceedings
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出版日期 | 2016 |
期号 | 9685页码:96850I-96850I-96856 |
DOI | 10.1117/12.2241728 |
WOS记录号 | WOS:000387429600018 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/260521] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_核技术应用研究中心 |
作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Liu BD,Liu, J., Y. Ma, W. Zhao, G. Niu, M. Chu, B. Yin, L. Han and B. Liu. X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament[J]. SPIE Proceedings,2016(9685):96850I-96850I-96856. |
APA | 刘宝东,&Liu, J., Y. Ma, W. Zhao, G. Niu, M. Chu, B. Yin, L. Han and B. Liu.(2016).X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament.SPIE Proceedings(9685),96850I-96850I-96856. |
MLA | 刘宝东,et al."X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament".SPIE Proceedings .9685(2016):96850I-96850I-96856. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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