X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament
文献类型：期刊论文
| 作者 | Liu BD(刘宝东); Liu, J., Y. Ma, W. Zhao, G. Niu, M. Chu, B. Yin, L. Han and B. Liu |
| 刊名 | SPIE Proceedings
 |
| 出版日期 | 2016 |
| 期号 | 9685页码:96850I-96850I-96856 |
| DOI | 10.1117/12.2241728 |
| WOS记录号 | WOS:000387429600018 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/260521]  |
| 专题 | 高能物理研究所_核技术应用研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Liu BD,Liu, J., Y. Ma, W. Zhao, G. Niu, M. Chu, B. Yin, L. Han and B. Liu. X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament[J]. SPIE Proceedings,2016(9685):96850I-96850I-96856. |
| APA | 刘宝东,&Liu, J., Y. Ma, W. Zhao, G. Niu, M. Chu, B. Yin, L. Han and B. Liu.(2016).X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament.SPIE Proceedings(9685),96850I-96850I-96856. |
| MLA | 刘宝东,et al."X-ray microscopy using reflection targets based on SEM with tungsten filament".SPIE Proceedings .9685(2016):96850I-96850I-96856. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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