DC Field Emission Scanning Measurements on Electropolished Nb Samples
文献类型：会议论文
| 作者 | A.Dangwal; D.Reschke |
| 出版日期 | 2005 |
| 会议日期 | 2005 |
| 会议地点 | New York |
| 会议录 | Proceedings of the 12th International Workshop on RF Supperconductivity
 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/259273]  |
| 专题 | 学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_SRF |
| 作者单位 | DESY, Hamburg |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | A.Dangwal,D.Reschke. DC Field Emission Scanning Measurements on Electropolished Nb Samples[C]. 见:. New York. 2005. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。