二元推导随机性检测的优化实现
文献类型:期刊论文
作者 | 范丽敏 ; 冯登国 ; 许囡囡 |
刊名 | 计算机工程
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出版日期 | 2008 |
卷号 | 34期号:19页码:20-22 |
关键词 | 随机性检测 二元推导 优化实现 |
ISSN号 | 1000-3428 |
其他题名 | optimization implementation of binary derivation randomness test |
中文摘要 | 随机性检测在密码学中发挥着关键的作用。二元推导是一种重要的随机性检测算法。根据二元推导原始定义实现的算法所耗时间随参数的增大线性增长。当参数逐渐增大时,算法的实用性降低。该文从二元推导的原理出发,分析二元推导的检测过程,得出由参数确定的推导流比特与原始流相关比特的关系。利用这种关系优化了算法的实现,改进后的算法所耗时间与具体的参数有关,速度上有很大的提高。 |
收录类别 | CSCD |
语种 | 中文 |
CSCD记录号 | CSCD:3385417 |
公开日期 | 2010-05-27 |
源URL | [http://124.16.136.157/handle/311060/2036] ![]() |
专题 | 软件研究所_信息安全国家重点实验室_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 范丽敏,冯登国,许囡囡. 二元推导随机性检测的优化实现[J]. 计算机工程,2008,34(19):20-22. |
APA | 范丽敏,冯登国,&许囡囡.(2008).二元推导随机性检测的优化实现.计算机工程,34(19),20-22. |
MLA | 范丽敏,et al."二元推导随机性检测的优化实现".计算机工程 34.19(2008):20-22. |
入库方式: OAI收割
来源:软件研究所
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