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二元推导随机性检测的优化实现

文献类型:期刊论文

作者范丽敏 ; 冯登国 ; 许囡囡
刊名计算机工程
出版日期2008
卷号34期号:19页码:20-22
关键词随机性检测 二元推导 优化实现
ISSN号1000-3428
其他题名optimization implementation of binary derivation randomness test
中文摘要随机性检测在密码学中发挥着关键的作用。二元推导是一种重要的随机性检测算法。根据二元推导原始定义实现的算法所耗时间随参数的增大线性增长。当参数逐渐增大时,算法的实用性降低。该文从二元推导的原理出发,分析二元推导的检测过程,得出由参数确定的推导流比特与原始流相关比特的关系。利用这种关系优化了算法的实现,改进后的算法所耗时间与具体的参数有关,速度上有很大的提高。
收录类别CSCD
语种中文
CSCD记录号CSCD:3385417
公开日期2010-05-27
源URL[http://124.16.136.157/handle/311060/2036]  
专题软件研究所_信息安全国家重点实验室_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
范丽敏,冯登国,许囡囡. 二元推导随机性检测的优化实现[J]. 计算机工程,2008,34(19):20-22.
APA 范丽敏,冯登国,&许囡囡.(2008).二元推导随机性检测的优化实现.计算机工程,34(19),20-22.
MLA 范丽敏,et al."二元推导随机性检测的优化实现".计算机工程 34.19(2008):20-22.

入库方式: OAI收割

来源:软件研究所

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