VarBIFT:指令级的变量冗余容错检测技术
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张显明 ; 张锐 ; 彭启民 ; 赵军锁 |
| 刊名 | 计算机工程与设计
 |
| 出版日期 | 2010 |
| 卷号 | 31期号:10页码:2163-2165,2183 |
| 关键词 | 软件容错 编译 可靠性 瞬时错误 嵌入式系统software fault tolerance compilation reliability transient fault embedded system |
| ISSN号 | 1000-7024 |
| 其他题名 | varbift: variable backup at instruction-level for fault tolerance |
| 中文摘要 | 为了解决空间辐射对嵌入式计算机系统正确性的影响越来越明显的问题,基于典型的编译级容错技术,在编译器LCC上实现了基于有向无环图的编译级容错检测方法VarBIFT。该方法可以有效的保护由于粒子效应所引起的瞬时硬件故障,并可针对不同的目标机自动生成容错代码。实验结果表明,VarBIFT使源程序的平均段错误率从32.3%降到了13.9%,平均错误输出率从28.6%降到了9.2%;而其时间开销和空间开销仅为0.7%和36%。 |
| 学科主题 | Computer Science |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2011-05-23 |
| 附注 | In order to solve the problem of more radiation effect on the correctness of embedded computer systems. Based on typical compiler fault tolerance technology,a new compiler fault tolerance method VarBIFT is implemented based on directed acyclic graph of C compiler LCC.An appropriate protection is provided for hardware against transient fault caused by event effects, and fault tolerance code according to variable targets are generated automatically. Experiment shows that with VarBIFT the program average ratio of segment fault decreases from 32.3%to 13.9%, and wrong output decreases from 28.6%to 9.2%.Its average overhead of time is 0.7%, and the overhead of memory is 36% |
| 源URL | [http://124.16.136.157/handle/311060/9802]  |
| 专题 | 软件研究所_综合信息系统技术国家级重点实验室 _期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张显明,张锐,彭启民,等. VarBIFT:指令级的变量冗余容错检测技术[J]. 计算机工程与设计,2010,31(10):2163-2165,2183. |
| APA | 张显明,张锐,彭启民,&赵军锁.(2010).VarBIFT:指令级的变量冗余容错检测技术.计算机工程与设计,31(10),2163-2165,2183. |
| MLA | 张显明,et al."VarBIFT:指令级的变量冗余容错检测技术".计算机工程与设计 31.10(2010):2163-2165,2183. |
入库方式： OAI收割
来源：软件研究所
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