质子辐射导致CCD热像素产生的机制研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 刘元; 文林 ; 李豫东; 何承发; 郭旗; 孙静; 冯婕; 曾俊哲; 马林东; 张翔
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| 刊名 | 微电子学
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| 出版日期 | 2018 |
| 卷号 | 48期号:1页码:115-119+125 |
| 关键词 | 电荷耦合器件 质子辐射效应 热像素 |
| ISSN号 | 1004-3365 |
| DOI | 10.13911/j.cnki.1004-3365.170108 |
| CSCD记录号 | CSCD:6177469 |
| 源URL | [http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/5247]  |
| 专题 | 新疆理化技术研究所_中国科学院特殊环境功能材料与器件重点试验室 新疆理化技术研究所_材料物理与化学研究室 固体辐射物理研究室 |
| 作者单位 | 1.中国科学院新疆理化技术研究所特殊环境功能材料与器件重点实验室 2.新疆电子信息材料与器件重点实验室 3.中国科学院大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘元,文林,李豫东,等. 质子辐射导致CCD热像素产生的机制研究[J]. 微电子学,2018,48(1):115-119+125. |
| APA | 刘元.,文林.,李豫东.,何承发.,郭旗.,...&王田珲.(2018).质子辐射导致CCD热像素产生的机制研究.微电子学,48(1),115-119+125. |
| MLA | 刘元,et al."质子辐射导致CCD热像素产生的机制研究".微电子学 48.1(2018):115-119+125. |
入库方式： OAI收割
来源：新疆理化技术研究所
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