光电编码器检测装置研究现状与展望
文献类型：期刊论文
| 作者 | 刘小树; 万秋华 ; 王树洁; 杨守旺; 孙莹
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| 刊名 | 半导体光电
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| 出版日期 | 2016-12-15 |
| 期号 | 6页码:763-769 |
| 关键词 | 光电编码器 误差 检测装置 |
| 英文摘要 | 随着科学技术的发展,各个研究单位对编码器的精度要求越来越高,因此,在编码器研制生产过程中,需要对其误差进行检测,虽然现有检测装置能够完成编码器的误差检测,但都存在着不足之处。文章在参考大量文献的基础上,首先介绍了光电编码器的原理,其次介绍了国内外编码器检测装置的结构及原理,并分析其优缺点,最后对其发展方向进行了展望。 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/57859]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘小树,万秋华,王树洁,等. 光电编码器检测装置研究现状与展望[J]. 半导体光电,2016(6):763-769. |
| APA | 刘小树,万秋华,王树洁,杨守旺,&孙莹.(2016).光电编码器检测装置研究现状与展望.半导体光电(6),763-769. |
| MLA | 刘小树,et al."光电编码器检测装置研究现状与展望".半导体光电 .6(2016):763-769. |
入库方式： OAI收割
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