影响杂光测试仪的杂光因素分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 谷立山; 陈晓苹 |
| 出版日期 | 2016-09-25 |
| 关键词 | 杂光 光学系统 像面 杂散光 光学成像 光谱范围 长焦距 物空间 成像质量 光学产品 |
| 英文摘要 | <正>通常所说的杂光是杂散光的简称。根据光学成像规律,在像面内形成的像是有用的光线组成的,有用的光线仅由预定光谱范围来的辐射所形成的。光学系统设计所不需要的,但从物空间经过光学系统而进入到像面的光线称为杂散光。根据几何光学规律,没有或仅部分通过光学系统而进入像面的光线成为散射光。杂光也是影响成像质量的一项比较重要的指标。由于光学产品的快速发展,大口径、长焦距的光学系统的 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/57976]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 谷立山,陈晓苹. 影响杂光测试仪的杂光因素分析[J],2016. |
| APA | 谷立山,&陈晓苹.(2016).影响杂光测试仪的杂光因素分析.. |
| MLA | 谷立山,et al."影响杂光测试仪的杂光因素分析".(2016). |
入库方式： OAI收割
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