利用功率谱密度评价离子束抛光光学元件表面粗糙度
文献类型：期刊论文
| 作者 | 岳巾英; 王泰升 ; 李素文
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| 刊名 | 光学技术
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| 出版日期 | 2017-05-15 |
| 页码 | 208-211 |
| 关键词 | 功率谱密度(Psd) 表面粗糙度(Ra) 离子束抛光 |
| DOI | 54B635653A85BD34CDEDD4ABEA5267B6 |
| 英文摘要 | 利用功率谱密度(PSD)评价光学表面粗糙度具有传统评价手段(Ra)所不具备的优势。给出了功率谱密度的计算方法,以及抽样方向与一维PSD曲线的关系。在离子束抛光K9玻璃实验中引入PSD曲线,以评价抛光光学零件的光学表面粗糙度,结合PSD曲线与Ra值能够更全面的指导光学加工。 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/58574]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 岳巾英,王泰升,李素文. 利用功率谱密度评价离子束抛光光学元件表面粗糙度[J]. 光学技术,2017:208-211. |
| APA | 岳巾英,王泰升,&李素文.(2017).利用功率谱密度评价离子束抛光光学元件表面粗糙度.光学技术,208-211. |
| MLA | 岳巾英,et al."利用功率谱密度评价离子束抛光光学元件表面粗糙度".光学技术 (2017):208-211. |
入库方式： OAI收割
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