Single Crystal Structure Study of Type I Clathrate K8Zn4Sn42 and K8In8Sn38
文献类型:会议论文
作者 | Xu, Jingtao; Wu, Jiazhen; Heguri, Satoshi; Tanabe, Yoichi; Liu, Guo-Qiang; Jiang, Jun; Jiang, Haochuan; Tanigaki, Katsumi; Xu, JT |
出版日期 | 2017 |
会议日期 | 2016 |
关键词 | Clathrate Flux Method Single-crystal X-ray Diffraction Einstein Temperature |
会议录出版者 | JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS |
会议录出版地 | Wuhan, PEOPLES R CHINA |
ISSN号 | 0361-5235 |
源URL | [http://ir.nimte.ac.cn/handle/174433/16203] ![]() |
专题 | 2017专题 |
通讯作者 | Xu, JT |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Xu, Jingtao,Wu, Jiazhen,Heguri, Satoshi,et al. Single Crystal Structure Study of Type I Clathrate K8Zn4Sn42 and K8In8Sn38[C]. 见:. 2016. |
入库方式: OAI收割
来源:宁波材料技术与工程研究所
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